В МИФИ разработали метод для раннего обнаружения перегрева реакторов и чипов
Компьютерра ·
Источник: Компьютерра - Журнал о науке и технологиях Специалисты Национального исследовательского ядерного университета «МИФИ» разработали методику ранней диагностики кризиса теплоотдачи. Она позволяет выявлять опасные изменения в теплообмене до того, как они приведут к перегреву оборудования. Метод основан на анализе колебаний температуры поверхности, отводящей тепло. Исследователи ищут связь между этими колебаниями и параметрами теплоносителя — давлением и расходом. Последние можно измерять непосредственно во время […] Полная версия статьи: В МИФИ разработали метод для раннего обнаружения перегрева реакторов и чипов